薄膜電容的損耗是與制造工藝有關(guān)的，卷繞錯(cuò)邊與噴金工藝的設(shè)定是如何造成薄膜電容損耗問題了，本文根據(jù)這兩個(gè)問題展開了探討，希望本文的內(nèi)容可以幫助到大家！
金屬化薄膜電容器芯子的端面要噴涂上金屬（一般為鋅、鋅錫合金），電容器的外引出線（一般為鍍錫銅包鋼線）就焊合到電容器芯子端面的金屬上（噴金層），這樣電容器的接觸損耗主要就是兩個(gè)方面。一是薄膜電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量；二是電容器的引出線與金屬層之間的接觸質(zhì)量。為了降低薄膜電容器的接觸損耗，應(yīng)從以下方面著手。
電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量，即金屬層與電容器芯子的附著質(zhì)量。
1）卷繞錯(cuò)邊，根據(jù)電容器的品種、電容量、額定電壓選取適當(dāng)?shù)牟牧希饘倩∧る娙萜鬟x取適當(dāng)?shù)慕饘倩∧?，電容器在卷繞時(shí)要選取適當(dāng)?shù)牟牧襄e(cuò)邊，如果錯(cuò)邊較小，電容器芯子端面在噴涂金屬時(shí)，金厲顆粒就會(huì)噴到芯子內(nèi)部，造成電容器短踣，如果錯(cuò)邊過大，電容器芯子端面的金屬層附近不牢，影響電容器的高頻損耗。
2）噴金工藝設(shè)定
電容器的噴金工序是重要的工序，噴金工藝參數(shù)設(shè)定不好，直接影響產(chǎn)品質(zhì)量，它會(huì)造成電容器芯子的短黯、芼子端面的金屬層與芯子附著力不好，從而造成薄膜電容器高頻損耗增大。我們用正交試駿法進(jìn)行了試驗(yàn)，確定了電容器噴金工序的工藝參數(shù)。
如您還有其它技術(shù)上的疑問可聯(lián)系我們，我們竭力為您解決。東莞市智旭電子制造安規(guī)電容，高壓薄膜電容，獨(dú)石電容，壓敏電阻，薄膜電容，更多品質(zhì)電容盡在JEC?？梢悦赓M(fèi)提供樣品測試，期待您的蒞臨。以上資訊來自東莞市智旭電子有限公司研發(fā)部提供，更多資訊請(qǐng)大家移步至網(wǎng)站中智旭資訊中獲取。
